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不同平整劑進行通孔電鍍填充實驗,其實驗結(jié)果如 1 所示,1(a)為添加
VF1 添加劑所得實驗結(jié)果,可觀察得知,在填充過程中一孔填充成爆炸型,而另
一孔則完全無銅沈積之現(xiàn)象,明顯有填孔不均勻的現(xiàn)象,且板面面銅沈積厚度幾
乎完全沒有成長的趨勢,所以吾人認為該平整劑抑制銅沈積速率能力過強,導致
銅沈積不均勻的現(xiàn)象產(chǎn)生。改用VF2 平整劑,進行通孔電鍍填充,實驗結(jié)果如
1(b)所示,所得通孔填充均勻且無空洞(Void)產(chǎn)生的現(xiàn)象。因此吾人將針對VF2
之平整劑進行電化學行為之研究。值得注意的是,此填充過程是由通孔之中央處
優(yōu)先開始沈積,此一特殊的填充行為,目前是一項新的發(fā)現(xiàn)。
使用循環(huán)線性掃描伏安法(Cyclic Linear Sweep Voltammetry,CLSV),針對不
同轉(zhuǎn)速、酸濃度、氯離子對其VF2 電化學行為影響進行研究,由實驗結(jié)果如2
所示,為不同電極轉(zhuǎn)速、酸濃度對于VF2 影響,在電極 0 rpm 條件下,如2(A),
中(a)曲線為不添加硫酸之曲線,可觀察到VF2 有很明顯二支脫附電流峰,分
別在Peak1:-0.51V、Peak2:-0.58V(vs. S.S.E.),表示該添加劑在電極表面有兩種吸附
形態(tài);若將鍍液的酸濃度提高至1%時,如(b)曲線所示,可觀察到VF2 脫附電
流峰只剩一支且脫附電位在-0.62 V(vs. S.S.E.)表示Peak 1、2 均受到酸濃度的影
響,與(a)曲線相較下明顯較為極化,再將酸的濃度提高至3%時,如(c)曲線所
示,VF2 脫附電位更高為-0.65 V(vs S.S.E),此結(jié)果說明該添加劑抑制銅沈積的能
力大小,受到酸濃度的影響,當酸濃度越高時VF2 抑制能力越強,相對的也觀察
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到當VF2 脫附后再重新吸附(Re-adsorption )電位也受到酸濃度的影響,電位分
別為-0.45V、-0.53V、-0.58V,當酸濃度越高時重新吸附(Re-adsorption )電位也
越高,換言之當重新吸附(Re-adsorption )電位越高時也就是重新吸附速率也比
較快;當將電極轉(zhuǎn)速提高到500 rpm 時,如2(B)所示,中(a)曲線為不添加硫
酸之曲線,可觀察到VF2 與如2(A) 中(a)曲線相同,有很明顯二支脫附電流
峰,分別在Peak1:-0.51V、Peak2:-0.61V(vs S.S.E),其Peak 2 脫附電位較電極轉(zhuǎn)速
為0 rpm 的電位高,而Peak 1 卻變化不大,表示Peak 2 脫附電位是受轉(zhuǎn)速的影響;
若將該鍍液的酸濃度提高至1%時,如(b)曲線所示,亦與1(A)相同,脫附
電流峰只剩一支且脫附電位在-0.63 V(vs S.S.E)亦比(a)曲線為極化,再將硫酸濃
度提高至3%時,如(c)曲線所示,VF2 脫附電位更高在-0.66 V(vs S.S.E),此結(jié)果
說明脫附電位會隨電極轉(zhuǎn)速提高而會有提高的趨勢但變大并不大,觀察VF2 重新
吸附(Re-adsorption )電位在轉(zhuǎn)速500 rpm 分別為-0.46V、-0.56V、-0.62V,此一
結(jié)果與2(A)中相較下(c)曲線稍微極化,得知轉(zhuǎn)速對于VF2 脫附電壓影響不大,
但對于重新吸附(Re-adsorption )速率會隨著轉(zhuǎn)速越快而吸附速率相對提高。
使用電化學之計時電位法所得之穩(wěn)態(tài)極化曲線,研究其氯離子、酸濃度、
轉(zhuǎn)速對于VF2 電化學行為之影響,于20 ppm VF2 不添加酸之電鍍液,改變氯離子、
轉(zhuǎn)速時之穩(wěn)態(tài)極化曲線,如3(A)中(a)、(b)曲線所示,在無添加氯離子時,
當轉(zhuǎn)速提高時銅沈積之電位上會上升,表示VF2 抑制銅沈積速率能力會提高,但
再加入10ppm 氯離子時,不管在高、低轉(zhuǎn)速下,電位均會提高至-0.45V(vs S.S.E),
抑制銅沈積速率能力會提高,再提高氯離子濃度時,不管在高、低轉(zhuǎn)速下,電位
均維持在-0.45V(vs S.S.E),由此一結(jié)果發(fā)現(xiàn)VF2 在不添加酸情況下,抑制銅沈積
能力不強,此時將于20 ppm VF2 鍍液添加1% 酸,進行研究,其結(jié)果如3(A)
中(c)、(d)曲線所示,在無添加氯離子時,其銅沈積電位較無添加硫酸之(a)、(b)
曲線明顯高,表示添加硫酸有助于VF2 抑制能力,當再添加入10ppm 氯離子時,
不管在高、低轉(zhuǎn)速下,電位均會提高至-0.58V(vs S.S.E),抑制銅沈積速率能力明顯
提高,再將氯離子濃度提高至20ppm 時,在高轉(zhuǎn)速下,電位維持在-0.60V(vs S.S.E),
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在低轉(zhuǎn)速下,電位維持在-0.58V(vs S.S.E),此一現(xiàn)象,說明了該添加劑具有對流敏
感吸附特性(Convection Dependent Adsorption,CDA),于高轉(zhuǎn)速下抑制銅沈積能
力大于低轉(zhuǎn)速下抑制銅沈積能力,此時再將氯離子濃度提高時,在高轉(zhuǎn)速下,電
位仍維持在-0.60V(vs S.S.E),在低轉(zhuǎn)速下,電位維持在-0.58V(vs S.S.E)變化不大;
此時將于20ppm VF2 將酸濃度提高至3 %時,進行研究,其結(jié)果如3(A)中(e)、(f)
曲線所示,在無添加氯離子時,其銅沈積電位較無添加1%硫酸之(c)、(d)曲線
明顯高,表示提高硫酸濃度是有助于VF2 抑制能力,當再添加入10ppm 氯離子時,
不管在高、低轉(zhuǎn)速下,電位均會提高至-0.60V(vs S.S.E),抑制銅沈積速率能力明顯
提高,此時再將氯離子濃度提高時,不管在高、低轉(zhuǎn)速下,電位仍維持在-0.60V(vs
S.S.E)左右變化不大。
吾人將將于VF2 濃度提高至40ppm,進行相同的研究,其如3(B)中(a)、(b)
曲線所示,在無添加氯離子時,當轉(zhuǎn)速提高時銅沈積之電位上會上升,表示VF2
抑制銅沈積速率能力會提高,但再加入10ppm 氯離子時,不管在高、低轉(zhuǎn)速下,
電位均會提高至-0.45V(vs S.S.E),抑制銅沈積速率能力會提高,此一結(jié)果與20ppm
VF2 實驗結(jié)果相同,此時再將氯離子濃度提高時,不管在高、低轉(zhuǎn)速下,電位均
維持在-0.45V(vs S.S.E)左右,由此一結(jié)果發(fā)現(xiàn)VF2 在不添加硫酸情況下,就算提
高VF2 濃度抑制銅沈積能力仍然不強,此時將于VF2 20ppm 添加1%硫酸,進行
研究,其結(jié)果如3(B)中(c)、(d)曲線所示,在無添加氯離子時,其銅沈積電位
較無添加硫酸之(a)、(b)曲線明顯高,當再添加入10ppm 氯離子時,不管在高、
低轉(zhuǎn)速下,電位均會提高至-0.58V(vs S.S.E),抑制銅沈積速率能力明顯提高,再將
氯離子濃度提高至20ppm 時,不管在高、低轉(zhuǎn)速下,電位維持在-0.61V(vs S.S.E),
此時再將氯離子濃度提高時,不管在高、低轉(zhuǎn)速下,電位仍維持在-0.61V(vs S.S.E)
左右變化不大;此將酸濃度提高至3%,進行研究,其結(jié)果如3(B)中(e)、(f)曲
線所示,在無添加氯離子時,其銅沈積電位較無添加1%硫酸之(c)、(d)曲線明
顯高,表示提高硫酸濃度確實有助于VF2 抑制能力,當再添加入10ppm 氯離子時,
在高轉(zhuǎn)速下,電位維持在-0.61V(vs S.S.E),在低轉(zhuǎn)速下,電位維持在-0.60V(vs
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