---
---
---(點(diǎn)擊查看產(chǎn)品報(bào)價(jià))
本文標(biāo)題："平行光軸面顆粒上進(jìn)行測定分析顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2019-11-5 7:54:19 本站主頁地址：http://m.mhzljd.cn
平行光軸面顆粒上進(jìn)行測定分析顯微鏡
二軸晶主折射率的測定
二軸晶光率體是三軸橢球體，有Ng、Nm、]Vp三個(gè)主折射率，均為
非常光，都需在定向切片上才能測得。
二軸晶的Nm一般均選用上OA的顆粒測定，因?yàn)檫@種顆粒在正交偏
光下是全消光，聚斂偏光下呈現(xiàn)上OA切片干涉圖，該切片上光率體切
面為圓，任意方向均為Nm，無須專門找Nm方向，找到后即可測定之，
只是每換一次浸油均需尋找上OA的顆粒。
二軸晶Ng和Ab必須在平行光軸面的顆粒上進(jìn)行測定，這種顆粒在
聚斂偏光下呈現(xiàn)閃圖，找到后在正交偏光下用消色器找到Ng和A》的方
向并使之分別平行下偏光鏡的PP，比較它們與浸油折射率相對大小，
通過不斷更換浸油即可測．QNg或Np的折射率。只是每換一次浸油均要
重復(fù)上述工作才能測得Ng或Np的折射率值。Ng和]Vp兩折射率不能一次
測量，必須分別進(jìn)行測量，但其方法和原理是一樣的。
5．其他光學(xué)性質(zhì)的觀察和測定
用油浸法測定晶體折射率的同時(shí)，還可觀察和測定晶體的透明度
、顏色、多色性、吸收性、消光類型、消光角、軸性、光軸符號(hào)、光
軸角等性質(zhì)，有時(shí)還測定延性符號(hào)、雙晶和解理等性質(zhì)，這更有利于
對晶體的鑒定。§2．6 晶體名稱的確定
在厚度為0．03mm薄片中的透明和半透明晶體，根據(jù)偏光顯微鏡下
所呈現(xiàn)各項(xiàng)光學(xué)性質(zhì)及常數(shù)的測定，即可確定晶體的名稱，此外，還
可研究試樣的顯微結(jié)構(gòu)和結(jié)構(gòu)參數(shù)。
所有資料用于交流學(xué)習(xí)之用，如有版權(quán)問題請聯(lián)系，禁止復(fù)制,轉(zhuǎn)載注明地址
上海光學(xué)儀器一廠-專業(yè)顯微鏡制造商 提供最合理的顯微鏡價(jià)格
合作站點(diǎn)：http://www.sgaaa.com/顯微鏡百科