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本文標(biāo)題："3維影像測(cè)量?jī)x器待測(cè)物在z軸方向測(cè)量原理"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2013-5-27 1:47:57 本站主頁地址：http://m.mhzljd.cn
3維影像測(cè)量?jī)x器待測(cè)物在z軸方向測(cè)量原理
因?qū)箤ば窝菟惴▌t主要是根據(jù)像素灰階值變化劇烈的程度，進(jìn)而得到在焦平面的訊號(hào)；
但若對(duì)焦尋形演算法則結(jié)合最小相鄰反捲積演算法則，除了會(huì)根據(jù)像素灰階值變化劇烈的程度外，
還會(huì)依據(jù)上下最近兩層影像的資訊，推測(cè)出更精確的焦平面區(qū)域，重建出較佳的三
維表面結(jié)果，
分別以對(duì)焦尋形原理及對(duì)焦尋形原理結(jié)合最小相鄰反捲積兩種演算法則，
并搭配待測(cè)物在 z 軸方向的掃描，達(dá)到待測(cè)物三維表面重建的目的
A 為電腦、B 為彩色 CCD 攝影機(jī)、C 為光學(xué)顯微鏡、D 為光源機(jī)、E
和 F 為步進(jìn)馬達(dá)的控制單元。其優(yōu)點(diǎn)為所提出的新聚焦度量值法比傳
統(tǒng)的聚焦度量法（拉普拉斯（Laplacian）、tenengrad、變異數(shù)（variance））
佳，結(jié)果如表 1.1 所示，從表中圈選的區(qū)域我們可以觀察出 F. S. Helmli
等人所提出的聚焦度量方法比傳統(tǒng)的方法佳；其缺點(diǎn)為只能量測(cè)表面
資訊較充足的待測(cè)物，對(duì)于表面資訊不充足的重建結(jié)果較差
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