---
---
---(點(diǎn)擊查看產(chǎn)品報(bào)價(jià))
本文標(biāo)題："高分辨的電子顯微影像測(cè)量分析儀器-顯微鏡常識(shí)"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2013-7-22 0:57:34 本站主頁(yè)地址：http://m.mhzljd.cn
高分辨的電子顯微影像測(cè)量分析儀器-顯微鏡常識(shí)
溫高低對(duì)低劑差排環(huán)的效應(yīng)較小，溫區(qū)間間隔需較大才可看出有明顯變化。
由于單晶碳化矽含加工制造缺陷，無(wú)法提供空孔有之成核點(diǎn)，因此在所有條件下皆未發(fā)現(xiàn)空孔
的存在。差排環(huán)的型態(tài)，目前推是由格隙原子團(tuán)聚，而造成之Frank 型多一排
原子之差排環(huán)。高分辨之電子顯微影像顯示某些區(qū)域極有可能符合以上推，但
在未超出影像范圍區(qū)域無(wú)法顯示完整差排環(huán)的端，因此此部分仍須努。未
研究將進(jìn)高溫以及高劑之照射實(shí)驗(yàn)，以解差排環(huán)是否會(huì)在6H 碳化矽
結(jié)構(gòu)下演化為差排網(wǎng)或其他缺陷型態(tài)，并深入探討其機(jī)制
所有資料用于交流學(xué)習(xí)之用，如有版權(quán)問(wèn)題請(qǐng)聯(lián)系，禁止復(fù)制,轉(zhuǎn)載注明地址
上海光學(xué)儀器一廠-專業(yè)顯微鏡制造商 提供最合理的顯微鏡價(jià)格
合作站點(diǎn)：http://www.sgaaa.com/顯微鏡百科