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本文標(biāo)題："使用電子顯微鏡觀測(cè)微小范圍內(nèi)縫隙變化"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2013-8-4 23:25:36 本站主頁(yè)地址：http://m.mhzljd.cn
使用電子顯微鏡觀測(cè)微小范圍內(nèi)縫隙變化
Vellinga 等人于 2000 年所發(fā)表的研究中結(jié)合掃瞄式電子顯微鏡與數(shù)位
影像相關(guān)系數(shù)法，成功的觀測(cè)到微小范圍內(nèi)的應(yīng)變，換算成實(shí)際空間中的長(zhǎng)度，其量測(cè)
到的位移大約是微米等級(jí)，
Vellinga 等人并認(rèn)為有可能可以達(dá)到次微米的解析度。在應(yīng)用方面，
Tong在 1997 年將數(shù)位影像相關(guān)系數(shù)法應(yīng)用在探討片狀鎂鋁合金之
塑性變形行為上，得到鎂鋁合金塑性變形之形成與發(fā)展過(guò)程及其他金屬材料相關(guān)之性質(zhì)。
Vendroux在 1998 年利用穿隧掃瞄顯微鏡(scanning tunneling microscopy)獲取影像
再配合數(shù)位影像相關(guān)系數(shù)法來(lái)進(jìn)行納米級(jí)的變形分析，研究中提出一新方法來(lái)找尋最大
相關(guān)系數(shù)的位置，較傳統(tǒng)之 Newton-Raphson 法在時(shí)間上節(jié)省了 25%，同時(shí)也增加了收
歛的穩(wěn)定性。實(shí)驗(yàn)結(jié)果顯示平面內(nèi)應(yīng)變之解析度約為 4.8 nm，
由此可知，未來(lái)可以數(shù)位影像相關(guān)系數(shù)法配合先進(jìn)之顯微鏡設(shè)備來(lái)量測(cè)與研究納米級(jí)變形。
另外歐洲許多古老建筑是由石頭與泥灰所砌成，為了研究這些建筑物的行為，法國(guó)學(xué)者 Raffard 等人[9]于 2001
年將數(shù)位影像相關(guān)系數(shù)法應(yīng)用于量測(cè)石頭間之泥灰的變形行為，對(duì)于不同之泥灰寬度與
高度進(jìn)行了一系列的實(shí)驗(yàn)，對(duì)泥灰之力學(xué)行為有了更精確的認(rèn)識(shí)。Kuo 等人]將此法
應(yīng)用于雙晶鋁片之塑性變形分析上，將塑性變形的過(guò)程視覺(jué)化。Tatschl 等人在 2003
年利用掃瞄式電子顯微鏡來(lái)獲取影像亦成功的將數(shù)位影像相關(guān)系數(shù)法分別應(yīng)用于銅及
多晶體之晶體塑性行為分析上
磚墻試驗(yàn)裂縫觀測(cè)、金屬材料異向性行為顯微觀測(cè)、
鋼筋混凝土樑撓曲裂縫觀測(cè)、擋土墻被動(dòng)破壞模式研究、鋼板破壞力學(xué)試驗(yàn)、脆性材料裂縫檢
測(cè)應(yīng)用研究、輕質(zhì)混凝土版撓曲裂縫觀測(cè)、以及橋樑承受交通荷載之變形監(jiān)測(cè)試驗(yàn)之應(yīng)用實(shí)例。
目前也將 DIC 技術(shù)成功地應(yīng)用在吊橋靜態(tài)位移量測(cè)
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