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本文標(biāo)題："石墨烯質(zhì)量檢測(cè)光學(xué)顯微鏡-光學(xué)顯微鏡下即可成像"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-1-12 1:38:31 本站主頁(yè)地址：http://m.mhzljd.cn
石墨烯質(zhì)量檢測(cè)光學(xué)顯微鏡-光學(xué)顯微鏡下即可成像
雖然石墨烯僅一個(gè)原子層厚，但在光學(xué)顯微鏡下即可成像。
事實(shí)上.石墨烯最初被發(fā)現(xiàn)時(shí)就是在普通的光學(xué)顯微鏡下被分辨出來(lái)的
方法也比較簡(jiǎn)單。例如.采用機(jī)械剝離法將石墨烯轉(zhuǎn)移到表面有一定厚
度級(jí)化層的硅片上，就可以直接在光學(xué)顯微鏡下進(jìn)行觀察。
可以看到大量的石墨碎片，尺寸、形狀、顏色和對(duì)比度各異。其中，
顏色和對(duì)比度與石墨烯的厚度(層數(shù))密切相關(guān)。
需要指出的是，在一般的硅片基底上，在光學(xué)顯微鏡下是無(wú)法
觀測(cè)到石墨烯的。氧化硅層的厚度對(duì)石扭烯的光學(xué)成像尤為重要。
當(dāng)氧化層的厚度滿足條件時(shí)，由于光路衍射和干涉效應(yīng)而導(dǎo)致顏色變化，
石墨烯會(huì)顯示出特有的顏色和對(duì)比度。
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