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本文標(biāo)題："測(cè)粒度和礦物顆粒的儀器-鐵譜顯微鏡的使用方法"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-3-17 15:45:26 本站主頁(yè)地址：http://m.mhzljd.cn
測(cè)粒度和礦物顆粒的儀器-鐵譜顯微鏡的使用方法
讀數(shù)誤差的消除
在用反射光源判讀被測(cè)區(qū)域的顆粒覆蓋面積時(shí)，由于許多金屬順
較也是反光的，開(kāi)始時(shí)會(huì)有反常假象，這就要求采取措施消除譜片下
方或顯微鏡載物臺(tái)上用來(lái)承載譜片的載物玻璃片上的污跡和雜質(zhì)所引
起的誤差。
這里之所以用反射光來(lái)判讀的原因是：在使用低倍目鏡的情況下。
它與譜片的距離足夠遠(yuǎn)，以致在所有的顆粒中。只有最大的金屬顆粒
呈暗色。而在判讀時(shí)使用10倍物鏡。其光圈數(shù)為0.25，與此相應(yīng)半錐
角為14°。此時(shí)只有大而平的顆粒才能將光反射回透鏡。
相反，放大倍數(shù)大的透鏡其光圈數(shù)也大，對(duì)于常用的100 倍目鏡，
其光圈數(shù)為0.9 ，相應(yīng)的半錐角為64°，這就是放大倍數(shù)大。顆粒反
射光量也大的原因。
由于測(cè)粒度法是逐個(gè)測(cè)定每顆礦物粒度進(jìn)行的，不受礦物形狀和
粒度大小不一致的影響。在重砂礦物篩分時(shí)，礦物粒級(jí)間隔可適當(dāng)增
大。在分析自然重砂時(shí)，測(cè)拉度法還為地質(zhì)研究中的礦物拉度分析和
形態(tài)分析提供較詳細(xì)的資料。
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