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本文標(biāo)題："光學(xué)長(zhǎng)度、位移、角度測(cè)量用圖像顯微鏡廠商"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-8-27 16:33:58 本站主頁(yè)地址：http://m.mhzljd.cn
光學(xué)長(zhǎng)度、位移、角度測(cè)量用圖像顯微鏡廠商
主動(dòng)測(cè)量與被動(dòng)測(cè)量相比，其優(yōu)點(diǎn)或者說(shuō)必要性，在總論
中已敘述了。此處就其長(zhǎng)度、位移、角度的主動(dòng)測(cè)量方法，分
三部分?jǐn)⑹鋈缦?
1.光學(xué)主動(dòng)測(cè)量
2.流體主動(dòng)測(cè)量
3.電學(xué)主動(dòng)測(cè)量
下面分兩種情況說(shuō)明:
①幾毫米以內(nèi)的小尺寸和小位移的測(cè)最，
②幾厘米以上至幾十厘米的大尺寸以及大位移的測(cè)量。
在微小尺寸和微小位移的測(cè)量中，又有兩種情況:
①測(cè)量的絕對(duì)值是表面各段微小尺寸差，②用比較法測(cè)量被測(cè)件
與標(biāo)準(zhǔn)件之差。不論是測(cè)量微小尺寸的絕對(duì)值，還是比較測(cè)量微
小長(zhǎng)度差，量?jī)x檢測(cè)微小長(zhǎng)度的機(jī)能都是相同的。通常把這
種測(cè)量?jī)x稱為比較測(cè)量?jī)x。
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