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本文標題："粒狀和低反射率工件表面光潔度測量顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2014-10-24 17:40:16 本站主頁地址：http://m.mhzljd.cn
高光潔度表面往往采用拋光方法，加工紋路極其混亂，其
干涉條紋曲折、斷裂，因而無法測量;電火花加工表面呈粒狀，
同樣也無法測量。此時，可應用儀器的附件—狹縫目鏡來
進行測量。如果某工件表面既呈粒狀又為低反射率，那么可
將狹縫目鏡和低反射率反射鏡一起使用(如用在測量毛玻璃
時)。
用狹縫目鏡測量時，工件表面不平深度亦按公式
如果測量階梯或者測量具有尖銳邊緣的刻槽，會引起干
涉條紋中斷。而應用本附件(狹縫目鏡)時，沒有象使用本機
時那樣(在白光照明時)具有和其他彩色干涉條紋相區(qū)別的二
印模法測量表面光潔度
方法和第三章五、印模方法測量表面光潔度相同，唯對高
光潔度表面，印模方法誤差增大，故一般僅適用于▽10,▽11,
再高時很少應用。
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