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本文標(biāo)題："晶纖專用光學(xué)顯微鏡觀察晶纖表面缺陷形貌"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-12-13 13:53:18 本站主頁地址：http://m.mhzljd.cn
晶纖專用光學(xué)顯微鏡觀察晶纖表面缺陷形貌
鑒于晶纖的透明性，可采用光學(xué)顯微鏡對(duì)晶纖缺陷進(jìn)行觀察.也
可采用電子顯微分析技術(shù)分別對(duì)晶纖表面缺陷形貌及缺陷成分進(jìn)行
分析。
晶纖的光學(xué)顯微鏡觀察
采用光學(xué)顯微鏡對(duì)晶纖內(nèi)部的散射顆拉及其它缺陷的研究比較
直觀。且制樣簡單，只要把樣品用乙醇擦拭。便于樣品放在樣品臺(tái)上，
長度要求大于I厘米，對(duì)于較小樣品，可用橡皮泥或其他夾具固定。
直徑波動(dòng)與顯微缺陷(如汽泡、散射顆粒、生長條紋、裂縫或炸
裂、表面附著物等)與生長工藝參數(shù)(如熔區(qū)長度、速比、拉速)及不同
的晶纖材料有直接關(guān)系。
電子顯微分析技術(shù).
電子顯微鏡主要有兩類:一類是透射式電子顯微鏡;另一類是掃
描式電子顯微鏡。它們都利用高速電子同試樣作用時(shí)所產(chǎn)生的信息
成像，但兩者所利用的信息種類有所不同，成像原理也有所區(qū)別。透
射式電子顯微鏡是利用試樣對(duì)入射電子波的衍射成像。掃描式電子
顯微鏡主要利用非彈性碰撞過程中所產(chǎn)生的各種信息按類似于電視
的方式成像。由于掃描電鏡具有:試樣制備簡單;能對(duì)試樣的特定部
位同時(shí)作形貌、成分、結(jié)構(gòu)等多項(xiàng)觀察的優(yōu)點(diǎn)，因此我們采用掃描電
鏡觀察晶纖表面缺陷并用電子探針能量色散譜(簡稱EDS)對(duì)缺陷進(jìn)
行微區(qū)分析。
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