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本文標題："損壞零件的斷口金相分析圖像顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2015-1-10 17:18:53 本站主頁地址：http://m.mhzljd.cn
損壞零件的斷口金相分析圖像顯微鏡
應(yīng)用電子斷口學能清楚地顯示一些與各種斷裂機制相聯(lián)系的專
門特征。但是，正如顯微組織的觀察不能被憑依為損壞分析的
唯一方法一樣，電子斷口學也并不是用于斷口形貌分析的唯一
金相手段。當電子斷口學同宏觀觀察和光學顯微鏡觀察兩者聯(lián)
合被運用時，效果才是最好的。
顯微組織觀察應(yīng)當包括對損壞零件的斷口以及斷口以外其它
部位的研究。這樣能提供關(guān)于所介入的斷裂機制有價值的情報
。例如，可遍及整個零件在適當部位上截取金相試樣并加以觀
察。觀察包含著主斷口的截面，可對此斷口上的觀察結(jié)果增添
深度值，而觀察了若干個這樣的截面之后，則對分析增添了第
三維資料。對遠離主斷口處進行細致的觀察，其一個有利點是
：根據(jù)處于成長初期的一些較小裂縫，可對機制獲得較清晰的
認識（因為主斷口處的細節(jié)極多，以致有時維以鑒別該處斷裂
事態(tài)的發(fā)展序列）。
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