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本文標(biāo)題："定量金相方法可應(yīng)用于SEM電子顯微鏡的復(fù)型觀察"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2015-5-13 12:46:35 本站主頁地址：http://m.mhzljd.cn
定量金相方法可應(yīng)用于SEM電子顯微鏡的復(fù)型觀察
電子金相試驗(yàn)中的定量測(cè)量;的定量金相方法可
應(yīng)用于SEM 的復(fù)型觀察和對(duì)拋光和浸蝕試樣的SEM 觀察，但對(duì)
于TEM 中薄膜試樣觀察時(shí)，只有在薄膜厚度遠(yuǎn)少于組織要素時(shí)
才能應(yīng)用，因?yàn)楫?dāng)大于或等于組織特征時(shí)，
則在薄膜厚度內(nèi)的粒子和薄膜上下表面截割粒子都可成像，
這樣會(huì)比反射光顯微鏡得到更多的信息，薄膜的厚度又是不均
勻的，所以就很難進(jìn)行測(cè)量數(shù)據(jù)的計(jì)算與分析。
當(dāng)所研究的相的相對(duì)量很少量，粒子重疊就不是主要問題，
可以在已知薄膜厚度的條件下用體視學(xué)方法進(jìn)行定量測(cè)量，萃
取復(fù)型可用于求出第二相粒子的大小、分布、平均顆粒大小和
標(biāo)準(zhǔn)偏差，但由于不可能萃取到100%的第二相粒子，所以不能
精確測(cè)定體積分率，直徑為10-1000nm 的粒子可以用萃取復(fù)型
測(cè)量，而極小的粒子用薄膜試樣測(cè)量較好。
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