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產(chǎn)品尺寸偏差質(zhì)量測量多功能高精度
顯微鏡
實際尺寸一—考慮允許誤差的實測獲得的尺寸;公稱尺寸
——計算極限尺寸的起始尺寸,也是偏差的起始點;極限尺寸
——兩個允許尺寸,實際尺寸應介于兩者之間或與其相等。兩
個極限尺寸中較小的一個稱為最小極限尺寸,而較大的一個稱
為最大極限尺寸‘極限偏差——極限尺寸與公稱尺寸的代數(shù)差。
可分為上偏差和下偏差。上偏差是指最大極限尺寸與公稱
尺寸的代數(shù)差。下偏差是指最小極限尺寸與公稱尺寸的代數(shù)差。
平均偏差是指上、下偏差的算術(shù)平均值。
公差——最大極限尺寸與最小極限尺寸之差,或上偏差與
下偏差的代數(shù)差的絕對值。公差帶是指由上、下偏差所限定的
一個區(qū)域。
配合——零件相互連接的特征,決定于它們相互結(jié)合所取
得的間隙和過盈值。間隙配合能保證獲得間隙;過渡配合既能
獲得間隙,又能獲得過盈。
經(jīng)互會在機器制造和儀表制造方面的統(tǒng)一公差和配合制,
對在圖紙上標繪線性尺寸極限偏差規(guī)定了三種方法:用公差帶
符號(字母符號)或用極限偏差的數(shù)值,用公差帶字母符號和
用右面括號內(nèi)它們的極限偏差數(shù)值
收試驗的檢驗計劃一致。若是沒有產(chǎn)品實際存在缺陷的資
料,以及在根據(jù)工藝部門制定的得到技術(shù)檢驗科同意與企業(yè)領(lǐng)
導者或總工程師批準的工藝過程(企業(yè)標準)對產(chǎn)品有更高的
要求時,則應進行普查。在這些文件中應規(guī)定工序、步驟、設(shè)
備和工具,并指出應進行產(chǎn)品質(zhì)量進廠檢驗的產(chǎn)品清單所規(guī)定
的該種材料和產(chǎn)品的所有參數(shù)。
選擇進廠檢驗時采用的方法和工具時,要考慮到對受檢產(chǎn)
品質(zhì)量指標測量精度的要求。物資技術(shù)供應處和外協(xié)處應與技
術(shù)檢驗科和技術(shù)法律部門,共同擬定對按合同供應的產(chǎn)品質(zhì)量
和產(chǎn)品目錄的要求。
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