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本文標(biāo)題："疏松、偏析、晶粒粗大的波形特征共同特征"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2016-8-3 0:07:04 本站主頁地址：http://m.mhzljd.cn
疏松、偏析、晶粒粗大的波形特征共同特征
疏松、偏析、晶粒粗大的波形特征共同特征
疏松、偏析、晶粒粗大的波形具有以下共同特征：
(1)正常探傷靈敏度難發(fā)現(xiàn)缺陷，即使有反射波出現(xiàn)，也不是
某一個反射體單獨作用的結(jié)果，而是同一波陣面上的反射體共同作
用的結(jié)果。
(2)比正常探傷靈敏度提高20～30dB后才能出現(xiàn)典型的缺陷波
形。
(3)三者的波形特征都系草狀回波，即波形虛幻，頂部不清晰
，波與波之間難于分辨，移動探頭時，波形變化迅速。不同特征
疏松與偏析
嚴(yán)重的疏松(特別是鑄件中的疏松)、偏析對底波有一定影響，會
使底波明顯減少。提高探傷靈敏度，底波反射次數(shù)會明顯增加。這
兩類缺陷中，暗點對底波影響較小，孔隙則影響較大。實踐證明，
鍛件中三級以下疏松偏析對底波反射影響不大。伴有氣泡缺陷的點
狀偏析對鍛件性能影響較大，它的傷波相對較高，對底波影響也較
大。
晶粒粗大
粗晶對底波影響嚴(yán)重，一般情況底波只有1～2次，但提高靈敏
度時，它的底波反射次數(shù)并不增加，
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