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本文標題："電子產(chǎn)品虛擬原型制作和制造工藝-封裝設計顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2016-8-30 16:31:21 本站主頁地址：http://m.mhzljd.cn
電子產(chǎn)品虛擬原型制作和制造工藝-封裝設計顯微鏡
不確定性及優(yōu)化模擬
現(xiàn)已證明，對各種電子產(chǎn)品的虛擬原型制作和制造工藝進行基
于模擬的優(yōu)化
納米封裝一納米技術與電子封裝是設計初期階段工藝特性描述
和產(chǎn)品開發(fā)的一種有效方法。
納米制造和納米封裝設計本身是一項極為復雜的工程任務。納
米結構的復雜性常導致實際的原型制作和測試十分困難或過于昂貴
。因此，在設計的初期階段，非常有必要采用數(shù)值仿真方法來模擬
系統(tǒng)的物理性能，并采用相關技術對系統(tǒng)的風險和可靠性進行量化
和優(yōu)化。確定性和隨機仿真方法能幫助管理和減輕設計失效的相關
風險，因而正成為現(xiàn)代設計中很有價值的工具。
計算機優(yōu)化技術可以幫助確定最佳的設計／工藝規(guī)范，協(xié)助制
定能實現(xiàn)納米結構性能和可靠性最優(yōu)化的設計原則。然而，從確定
性的角度來說，實際上這些封裝或工藝優(yōu)化設計，與安全可靠的設
計方案相去甚遠。其原因是納米電子工藝各方面固有的不確定性，
即納米結構的制造工藝參數(shù)和／或運行工藝參數(shù)（如運行溫度、濕
度等）、尺寸公差、材料的物理特性等都會自然地變化。
可采取幾種不同的概念和方法對不確定性進行建模和量化，目
前最流行的是采用概率理論。
抽樣法是評估確定性的常用技術。如在蒙特卡羅模擬法中，根
據(jù)參數(shù)概率分布產(chǎn)生隨機變量的樣本，然后直接利用可靠性函數(shù)對
樣本進行評估和檢查，以確定是否產(chǎn)生失效[引。樣本中失效采樣
點（其失效通過極限狀態(tài)函數(shù)表征）的比例會接近失效概率。這些
方法的缺點是需要對大量的采樣點進行評估。如果采用實驗或高保
真分析，一個單獨的評估就可能復雜、昂貴并且耗時。降階模型可
用來克服此缺點。降價模型能對工藝或設計進行快速分析，因此能
夠對可靠性函數(shù)進行快速評估。
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