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本文標(biāo)題："礦物材料的顆粒表面微觀檢測(cè)金相顯微鏡"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2016-10-12 22:02:05 本站主頁(yè)地址：http://m.mhzljd.cn
顆粒表面和比表面積
礦物材料的顆粒表面是極不規(guī)則的，大部分礦物屬晶體結(jié)構(gòu)，
在晶體的表面，通常存在臺(tái)階、裂隙、溝槽、位錯(cuò)、缺陷等。通常
將組成晶體的全部質(zhì)點(diǎn)都定位在晶體結(jié)構(gòu)中的正確位置上的晶體，
稱為理想晶體。而事實(shí)上這種晶體是不存在的，自然界中的實(shí)際礦
物晶體都不可避免地存在缺陷，這種缺陷的存在，在理論上和實(shí)際
應(yīng)用中都有重要意義，如晶體缺陷決定著礦物顆粒的化學(xué)活性，并
對(duì)其光學(xué)性質(zhì)、電學(xué)性質(zhì)、聲學(xué)性質(zhì)、力學(xué)性質(zhì)和熱學(xué)性質(zhì)等都有
影響。
晶體缺陷分為四種類型：點(diǎn)缺陷、線缺陷、面缺陷和體缺陷。
點(diǎn)缺陷是指在晶體點(diǎn)陣位置上存在空位或被外來(lái)雜質(zhì)原子取代，如
類質(zhì)同象替代就屬于這種情況；線缺陷是指在晶體中沿某一條線附
近的原子排列偏離了理想晶體的點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)，如位錯(cuò)就是一種線缺陷
；面缺陷存在于多晶體中，所謂多晶體是指由許多單晶顆粒組成的
晶體，多晶體中不同取向的晶粒之間的界面稱為晶粒界面，若晶粒
界面附近的原子排列出現(xiàn)紊亂，就構(gòu)成了面缺陷；
單位體積或單位質(zhì)量的礦物所具有的表面積稱為該礦物顆粒的比表
面積。礦物顆粒的粒度越細(xì)，顆粒的比表面積越大，如粒度為1cm
的顆粒破碎到粒度1μm時(shí)，該礦物顆粒的比表面積增大約1萬(wàn)倍。
顆粒的表面積可分為外表面積和內(nèi)表面積。外表面積是指顆粒的外
部輪廓所包絡(luò)的表面積，它由顆粒的大小和外部形狀所決定；內(nèi)表
面積是指顆粒內(nèi)部的孔隙、裂紋等構(gòu)成的表面積。
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