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本文標(biāo)題："摩擦力顯微鏡的原理簡(jiǎn)介-儀器小常識(shí)，上光儀器"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2013-1-13 0:25:33 本站主頁(yè)地址：http://m.mhzljd.cn
摩擦力顯微術(shù)(FFM)
在接觸式AFM 中，利用四象限光電二極體，同時(shí)偵測(cè)探針的垂直及水平位移，
而得到固定正向力下之表面摩擦力，在一般原子力顯微鏡皆有此功能。應(yīng)用于樣品結(jié)構(gòu)成份區(qū)分，
表面潤(rùn)滑特性分析，表面摩擦力量測(cè)等等。目前大多是測(cè)量摩擦力相對(duì)值，絕對(duì)值量測(cè)有幾種不同方法，但正確性及重復(fù)性仍有待提升。
而得到固定正向力下之表面摩擦力，在一般原子力顯微鏡皆有此功能。應(yīng)用于樣品結(jié)構(gòu)成份區(qū)分，
表面潤(rùn)滑特性分析，表面摩擦力量測(cè)等等。目前大多是測(cè)量摩擦力相對(duì)值，絕對(duì)值量測(cè)有幾種不同方法，但正確性及重復(fù)性仍有待提升。
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