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本文標(biāo)題："電子元件分析用檢測顯微鏡制造廠商"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2014-6-5 1:12:58 本站主頁地址：http://m.mhzljd.cn
電子元件分析用檢測顯微鏡制造廠商
電氣特性的標(biāo)準(zhǔn)測試方法是指那些用來測試電氣和電子元件特性的典型方法。
在標(biāo)準(zhǔn)電測試中，測試方法由標(biāo)準(zhǔn)測試步驟所規(guī)定。此外，被測器件的技術(shù)條件提供
了標(biāo)準(zhǔn)測試期間施加于該器件的各種電偏置條件的詳細(xì)信息。所有的測試參數(shù)和側(cè)
試方法皆有明確的規(guī)定，并將測試結(jié)果與該器件技術(shù)指標(biāo)的范圍進(jìn)行比較，以確定該
器件是“合格”還是“不合格”。在側(cè)試過程中，如果元件被正確地側(cè)試但受到測試損
壞，這是無關(guān)緊要的.因為該元件顯然存在缺陷而將歸人“不合格”器件之列。
前述標(biāo)準(zhǔn)測試方法和技術(shù)條件，是根據(jù)按一定的設(shè)計規(guī)范所制造的器件之期望性
能來制訂的。這些測試還假定，對器件的后續(xù)測試或處理不應(yīng)使它與其預(yù)期的形態(tài)有
所不同。此外，如果先前的測試已使器件的性能下降或?qū)ζ湓斐蓳p害，標(biāo)準(zhǔn)測試也不
會防止器件進(jìn)一步受到損害。標(biāo)準(zhǔn)測試的目的僅在于確定器件是否滿足其預(yù)定的電
氣性能指標(biāo)。如果在先前的測試或處理過程中，器件的性能已經(jīng)下降，則在其特性測
試過程中，標(biāo)準(zhǔn)測試可能造成對該器件的進(jìn)一步損害，致使其性能進(jìn)一步降低.就其
測試目的而言，這種情況無關(guān)緊要。原本性能下降的器件與進(jìn)一步受損害的器件一
樣，都不能通過測試，兩者皆將作為電測試的廢品而不予考慮。
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