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本文標(biāo)題："礦物截面顯微顆粒分析可以用巖石顯微鏡測(cè)量"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-8-4 20:01:32 本站主頁(yè)地址：http://m.mhzljd.cn
礦物截面顯微顆粒分析可以用巖石顯微鏡測(cè)量
單粒礦物除了容易作光學(xué)和X射線(xiàn)鑒定外，其主要優(yōu)點(diǎn)
是各種研究礦物的技術(shù)，如旋轉(zhuǎn)針、X射線(xiàn)、離子探針、電
子探針、掃描電鏡和掃描透射電鏡等，都可用到礦物的同
一個(gè)顆粒上，這樣就可準(zhǔn)確地了解具有特定微最元素組成
的某一礦物所具有的各種性質(zhì)。
兩面拋光薄片中的礦物也可以用巖石顯微鏡、掃描電鏡、
電子探針和掃描透射電鏡來(lái)研究，但是用單粒礦物的最大優(yōu)點(diǎn)，
就在于能快速準(zhǔn)確地作出鑒定，同時(shí)能獲得比重和單晶X射線(xiàn)等
方面的資料。
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