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本文標(biāo)題："光學(xué)影像測(cè)量?jī)x器獲取物體的形狀的原理"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2015-1-15 23:39:44 本站主頁(yè)地址：http://m.mhzljd.cn
光學(xué)影像測(cè)量?jī)x器獲取物體的形狀的原理
從陰影中獲取物體的形狀是基于這樣的原理，空間不同的物
體有不同的姿態(tài)，當(dāng)用合適的光線(xiàn)照射物體的表面，在物體的圖
像上，將出現(xiàn)不同的亮度，這種空間亮度的變化稱(chēng)為陰影。
該亮
度變化可以用于估計(jì)物體表面小塊的方位。但是在圖像中，測(cè)量
一點(diǎn)的光線(xiàn)強(qiáng)度，只能獲得一個(gè)測(cè)量，而物體表面方位需要兩個(gè)
自由度。為了解決問(wèn)題，就需要另外的測(cè)量，這就需要在不同光
照條件下，獲得另外的圖像。構(gòu)造的方程以物體表面IL何不同的
光照強(qiáng)度為變量，然后根據(jù)被給的成像模型重構(gòu)物體表面。這種
方法不適合在實(shí)時(shí)操作時(shí)使用。另外，它也不能應(yīng)用于紋理表面
和反射不均勻的表面。
從紋理中獲取物體的形狀是利用已知紋理模型的扭曲估計(jì)物
體表面的方位，該方法不適合實(shí)時(shí)應(yīng)用，也不能完全進(jìn)行形狀恢
復(fù)。
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