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電子探針顯微分析
電子探針顯微分析儀其原理與掃描電子顯微鏡相似,
但它用來進行定量顯微分析,而后者用于產生高分辨率的
形貌信息,該儀器對電鍍層的檢查具有一定的用途,
但比已概述的那些儀器更專一化,它的主要用途或定量地
指示研究試樣中特定元素的分布,這種情況在用光學顯微
鏡檢查之后存在異議,但只要用電子探針顯微分析儀才能
證實,同樣,在鍍鎳層中,銅雜質的存在也可檢測到。
電子探針顯微分析儀可用于檢測鍍層的不連續(xù)性,這種
不連續(xù)性或者有固有的,即當電鍍時存在于鍍層中的,
或者是因腐蝕而形成的,因為電子僅能在金屬內穿透一段
很短的距離,所以,底層金屬僅在沒有鍍層的區(qū)域才能被
檢測。
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