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(點(diǎn)擊查看產(chǎn)品報(bào)價)
導(dǎo)電覆層的厚度-渦流法覆層測厚儀技術(shù)應(yīng)用
渦流法覆層測厚儀
渦流法覆層測厚儀的最大特點(diǎn)是在儀器制造中要重點(diǎn)地進(jìn)行
干擾因素的抑制或消除。根據(jù)測量對象、用途以及技術(shù)要求不
同,儀器電路變化很大。
通常渦流法覆層測厚儀包括激勵電源、測頭、測量電路、信
號處理電路以及顯示電路等部分。
激勵電源主要是單頻正弦波振蕩器、多頻正弦振蕩器、脈沖
發(fā)生器。
單頻激勵的覆層測厚儀根據(jù)其測頭的激勵方式,通常有以下
幾種電路。
微型計(jì)算機(jī)渦流法覆層測厚儀的原理圖。這
種測厚儀包括測量電路和微計(jì)算機(jī)部分。它通過微機(jī)程序?qū)υ搩x
器操作采取人機(jī)對話方式進(jìn)行測量,所測得的數(shù)據(jù)通過微機(jī)運(yùn)算
和處理,可以直接顯示,也可以進(jìn)行數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)處理,全部結(jié)果還
可以打印,作為檢測報(bào)告保存起來。
渦流法覆層測厚儀由于測量對象的不同,所要抑制的干擾因
素也不一樣,因而對電路調(diào)試和要求則不相同,有各自的特點(diǎn),
下面分述不同測量對象的儀器及其應(yīng)用。
渦流法測量導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層的厚度可從幾微米到幾十
毫米,甚至更厚。通常利用渦流法測量覆層厚度,主要是測量鋁.
及其合金上的陽極氧化膜、鋁和銅等及其合金上的涂覆層的厚
度。較通用的儀器的測厚范圍在1mm以內(nèi)。
測量導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度實(shí)際是測量測頭和被測件基.
體金屬表面問的距離。在這種覆層厚度測量中,如果測頭每次接
觸被測表面其狀態(tài)不能保持一致性,則會導(dǎo)致在距離上的微小變’
化,反映在儀器顯示的靈敏度和覆層厚度的靈敏度是相同的,并
且無法抑制,因而對測頭測量的技術(shù)要求很高,通常都采用壓測
頭以保持測量狀態(tài)的一致性。
基體電導(dǎo)率的變化是造成非導(dǎo)電覆層厚度測量誤差的一個重
要原因,為此渦流法覆層測厚儀具有抑制電導(dǎo)率變化影響的特
點(diǎn)。
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