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本文標(biāo)題："漏磁無(wú)損檢測(cè)法既可檢測(cè)表面裂紋-表面檢測(cè)顯微鏡"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2016-12-7 16:18:00 本站主頁(yè)地址：http://m.mhzljd.cn
漏磁無(wú)損檢測(cè)法既可檢測(cè)表面裂紋-表面檢測(cè)顯微鏡
在眾多的無(wú)損檢測(cè)方法中，由于漏磁無(wú)損檢測(cè)法既可檢測(cè)表面裂紋
，又可檢測(cè)內(nèi)部裂紋，而且具有檢測(cè)靈敏度較高、檢測(cè)速度快、對(duì)
工件表面清潔度要求不高、成本低、操作簡(jiǎn)單等優(yōu)點(diǎn)，被廣泛應(yīng)用
在鐵磁材料無(wú)損檢測(cè)l扣。特別是漏磁檢測(cè)對(duì)工件表面清潔度要求
不高的優(yōu)點(diǎn)，讓它很適用于表面覆蓋介質(zhì)(鍍層、油漆等)設(shè)備的在
線(xiàn)無(wú)損檢測(cè)，降低了由于非必要停車(chē)和先打磨表面覆蓋介質(zhì)再檢測(cè)
而增加的檢驗(yàn)成本，同時(shí)也減輕了勞動(dòng)強(qiáng)度。
漏磁檢測(cè)的研究動(dòng)態(tài)
漏磁無(wú)損檢測(cè)是從磁粉探傷演化來(lái)的，依靠鐵磁性材料表面或
近表面缺陷引起磁場(chǎng)的畸變達(dá)到檢測(cè)缺陷的目的
在漏磁檢測(cè)中，主要涉及i個(gè)方面的工作：①漏磁檢測(cè)的正演
計(jì)算模型，即正演問(wèn)題，是已知源和缺陷形狀求電磁場(chǎng)的分布；②
漏磁信號(hào)的預(yù)處理，對(duì)檢測(cè)漏磁信號(hào)進(jìn)行降噪補(bǔ)償?shù)裙ぷ�，為缺�?/div>
檢測(cè)奠定基礎(chǔ)；③漏磁檢測(cè)的反演計(jì)算模型，即反演問(wèn)題，是由給
定的磁場(chǎng)數(shù)據(jù)求出鐵磁材料中是否存在缺陷、缺陷的位置和形狀。
利用漏磁進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，本質(zhì)上就是研究電磁能量與被測(cè)件的相互
作用關(guān)系，這種交互作用的定量描述從理論上可用麥克斯韋方程表
示。麥克斯韋方程從理論上嚴(yán)密闡述了電與磁的關(guān)系，而真正運(yùn)用
它來(lái)求電磁場(chǎng)的解即空間中每一點(diǎn)或每一時(shí)刻的電磁場(chǎng)數(shù)值時(shí)，還
要將其展開(kāi)成時(shí)間與空間坐標(biāo)下的微分方程，并且根據(jù)材料的實(shí)際
形狀和幾何尺寸求解．，然而這一求解過(guò)程是極其困難的，迄今為
止人們只找出了這些方程存在與求解的條件，除極少數(shù)情況外，這
些方程具體的解析解是無(wú)法取得的。
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