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本文標(biāo)題："樣品表面的物理計(jì)算機(jī)圖像顯微鏡廠家"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2016-12-27 23:09:05 本站主頁(yè)地址：http://m.mhzljd.cn
樣品表面的物理計(jì)算機(jī)圖像顯微鏡廠家
反饋系統(tǒng)主要由原子力顯微鏡系統(tǒng)中的控制器承擔(dān)。在系統(tǒng)流
程中，由位置檢測(cè)系統(tǒng)獲得的偏移量被轉(zhuǎn)化為電信號(hào)，在反饋系統(tǒng)
中這些電信號(hào)被當(dāng)作內(nèi)部調(diào)整的反饋信號(hào)，控制器依據(jù)此信號(hào)給掃
描管中的壓電陶瓷施加電壓，驅(qū)使壓電陶瓷做相應(yīng)的伸縮移動(dòng)，以
保持樣品與針尖之間保持合適和基本恒定的作用力。
反饋回路的作用在于：接受探針和樣品相互作用的強(qiáng)度的信息
，并以接受的信息為依據(jù)，改變加在樣品掃描管的電壓，從而改變
樣品和探針的相對(duì)距離，控制探針和樣品相互作用的強(qiáng)度，進(jìn)而實(shí)
現(xiàn)反饋控制。目前大多數(shù)的商用掃描探針顯微鏡都采用數(shù)字反饋控
制回路，用戶可以通過(guò)計(jì)算機(jī)上的在線控制軟件中的參數(shù)工具欄更
改目標(biāo)電壓(Setpoint)，積分增益(Integral Gain)，比例增益(Pr
oportional Gain)等幾個(gè)主要參數(shù)實(shí)現(xiàn)對(duì)反饋回路的控制，獲得最
真實(shí)的樣品表面性質(zhì)信息。
原子力顯微鏡系統(tǒng)將力檢測(cè)系統(tǒng)，位置檢測(cè)系統(tǒng)，反饋系統(tǒng)這
三部分結(jié)合起來(lái)，構(gòu)成～個(gè)閉環(huán)的控制回路，利用納米級(jí)別的探針
針尖觸摸樣品，將樣品表面的物理化學(xué)信息呈現(xiàn)出來(lái)。
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