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本文標(biāo)題："集成電路板分析高質(zhì)量測(cè)試工業(yè)顯微鏡"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2017-6-24 2:08:50 本站主頁(yè)地址：http://m.mhzljd.cn
集成電路板分析高質(zhì)量測(cè)試工業(yè)顯微鏡
在超速測(cè)試中，在時(shí)鐘速度高于系統(tǒng)時(shí)鐘的條件下執(zhí)行現(xiàn)有的或改
進(jìn)后的過(guò)渡故障模式。在更高時(shí)鐘下的測(cè)試模式的應(yīng)用能夠降低所
有路徑上的有效系統(tǒng)余量，因此能夠增加檢測(cè)到所有路徑上的小延
遲缺陷的概率。由于這一點(diǎn)，基于超速方法的測(cè)試方案不僅能夠檢
測(cè)關(guān)鍵的小延遲缺陷，還能夠篩選出潛在的可靠性缺陷。但是需要
特別注意的就是，當(dāng)選取測(cè)試時(shí)鐘速度時(shí)許多長(zhǎng)路徑可能成為多周
期路徑，因此需要將它們屏蔽掉。同樣，更高的測(cè)試頻率會(huì)使更多
的短路徑看成可能的延遲缺陷，因此對(duì)那些不需要嚴(yán)格質(zhì)量水平的
產(chǎn)品會(huì)過(guò)殺其良率。然而，龐大的模式數(shù)量的問(wèn)題仍然是超速測(cè)試
方法的一個(gè)主要的缺點(diǎn)�；诔俚臏y(cè)試方法已經(jīng)得到擴(kuò)展并包含
工藝偏差的影響以及串?dāng)_效應(yīng)。這一擴(kuò)展對(duì)理解小延遲缺陷是十分
關(guān)鍵的，因?yàn)檫@些不僅僅是在生產(chǎn)過(guò)程中引入的物理缺陷所引起的
，而且也會(huì)因電氣缺陷在現(xiàn)實(shí)生活中發(fā)生，例如串?dāng)_。替代或混合
的測(cè)試方法，能夠解決龐大的模式數(shù)量以及很長(zhǎng)的運(yùn)行時(shí)間的問(wèn)題
而不會(huì)損耗測(cè)試質(zhì)量。大部分替代的測(cè)試方法基于高效的測(cè)試模式
選取或高效的故障點(diǎn)選取�；谀Ｊ竭x取的方法中，不用生成時(shí)序
敏感模式，從現(xiàn)有的過(guò)渡故障模式庫(kù)中選取高效的測(cè)試模式。測(cè)試
模式對(duì)小延遲缺陷的有效性是基于電路中主／掃描輸出端所觀測(cè)到
的輸出偏差而測(cè)量得到的。類似的，其他的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)可以用于找出
具有更高的小延遲缺陷覆蓋率的測(cè)試模式。對(duì)于大型的工業(yè)電路來(lái)
說(shuō)，這些方法在測(cè)試質(zhì)量和測(cè)試成本方面可以提供更高的靈活性，
但是這些方法的缺點(diǎn)之一就是測(cè)試結(jié)果的總體質(zhì)量無(wú)法高于選取這
些測(cè)試模式源頭的測(cè)試模式庫(kù)的質(zhì)量。、因此，擁有一個(gè)非常高質(zhì)
量基線的測(cè)試模式集是關(guān)于這些方法的先決條線。高效的基于故障
選取的替代方案不會(huì)遭受這一弊端。有效的基于故障選取的方法的
主要原理就是并不是所有的故障點(diǎn)都需要特別的測(cè)試模式來(lái)鎖定小
延遲缺陷，因?yàn)閭鹘y(tǒng)的過(guò)渡故障模式已經(jīng)檢測(cè)了很多可能的小延遲
缺陷�；陔娐吠�?fù)涞墓收线x取方法。這兩種方法能夠在合理的計(jì)
算時(shí)間內(nèi)產(chǎn)生高質(zhì)量的測(cè)試集，這兩種方法在產(chǎn)業(yè)上的應(yīng)用也驗(yàn)證
了這些方法針對(duì)產(chǎn)品應(yīng)用的價(jià)值。
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