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本文標(biāo)題："金屬截面孔隙率量測影像測量高清晰顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2013-9-20 12:53:11 本站主頁地址：http://m.mhzljd.cn
金屬截面孔隙率量測影像測量高清晰顯微鏡
某些較新的正面漿料會特別強調(diào)印出的電極可達到又窄又高，
并加大截面積以維持足夠的導(dǎo)電能力。由于正面細電極相當(dāng)接近 P-N 接
面，對于光電轉(zhuǎn)換效率的好壞有較大的影響，
其線寬和間距也須參考硅芯片導(dǎo)電特性或其它制程條件的改變而進行修改，
以追求更高的光電轉(zhuǎn)換效率。要做出相當(dāng)細的電極，當(dāng)然也需與漿料、
網(wǎng)版的操作性質(zhì)配合。
而正面電極的制作，也有些材料、設(shè)備供應(yīng)商提出以電鍍法
取代網(wǎng)印制程，強調(diào)更致密的銀或銅有機會做出比需要燒結(jié)而有多孔
質(zhì)的銀漿具有更好導(dǎo)電特性的電極。目前有新的電極印刷制程，但因
為電極印刷兩次產(chǎn)生之錯位問題將導(dǎo)致轉(zhuǎn)換效率相對降低，所以本研
究針對兩次印刷產(chǎn)生錯位問題進行補正，以提高太陽能芯片之轉(zhuǎn)換效率
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