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本文標(biāo)題："測(cè)量透明和半透明鍍層的厚度-表面粗糙度測(cè)量?jī)x"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-4-29 21:49:17 本站主頁(yè)地址：http://m.mhzljd.cn
測(cè)量透明和半透明鍍層的厚度-表面粗糙度測(cè)量?jī)x
使用的儀器主要用于測(cè)量表面粗糙度。也可用于測(cè)量透明和半透明鍍層
的厚度，特別是鋁上的陽(yáng)極氧化膜。
儀器的工作原理是，將一光束以45°入射角照射到鍍層表面，光束的一
部分從鍍層表面反射回來(lái)。另一部分穿透鍍層并從鍍層一基體的界面上反射
回來(lái)。從顯微鏡的目鏡中可以看見(jiàn)兩個(gè)分離的圖象，其距離與鍍層的厚度成
正比，并且可以用調(diào)整刻度標(biāo)尺的控制旋鈕對(duì)該距離進(jìn)行測(cè)金。
只有當(dāng)鍍層一基體界面上有足夠的光線被反射回來(lái)，在顯微鏡內(nèi)得到清
晰的圖象時(shí)，才能使用本方法。
對(duì)于透明或半透明覆蓋層，例如陽(yáng)極氧化膜，本方法是無(wú)損的。為了測(cè)
量不透明N 蓋層的厚度，必須去掉一小塊鍍層，使鍍層表面和基體之間形成
一個(gè)能對(duì)光束產(chǎn)生折射的臺(tái)階，因此能測(cè)
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