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本文標(biāo)題："光電電子顯微鏡的特點(diǎn)-PEEM儀器主要部分是電子透鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-7-15 7:26:23 本站主頁地址：http://m.mhzljd.cn
光電電子顯微鏡的特點(diǎn)-PEEM儀器主要部分是電子透鏡
分子取向襯度
分子軌道的取向可以用線偏振的x射線探測(cè)，因?yàn)楫?dāng)入射光的電場(chǎng)矢量方向
與分子軌道的取向平行時(shí)可以獲得比垂直時(shí)更強(qiáng)的吸收.
在實(shí)際工作中，出射的電子具有不同的速度、能量以及出射角度，導(dǎo)致圖像的
模糊，因而產(chǎn)生所謂的多色失真和球形失真.曲面電子反射鏡的雙曲線場(chǎng)理論上可
以消除光電發(fā)射電子顯微鏡的這兩種失真.這種失真矯正的理念已經(jīng)成功應(yīng)用于
光學(xué)顯微鏡和透射電子顯微鏡.在用X射線光源時(shí)色彩失真占主導(dǎo)，因?yàn)橄啾日?/div>
空紫外(UV)激發(fā)而言，發(fā)射的電子有寬得多的能量分布.
PEEM儀器主要部分是電子透鏡，其中有純粹的靜電透鏡，也有的包含磁透鏡.
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