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本文標題："利用分析和電阻率測量金屬中的雜質元素"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2015-5-3 20:39:08 本站主頁地址：http://m.mhzljd.cn
利用分析和電阻率測量金屬中的雜質元素
利用分析和電阻率測量確定純度
直接確定純度的必要性
在很多場合，僅僅當有了確定最后提純純度的某種方法
以后才去做一個提純實驗.實踐中預先計算由給定區(qū)熔過程
所想得到的純度是困難的，真實的分布系數(shù)不知道，雜質材
料的污染總是存在的，因此精確地預言所得到的純度事實上
是不可能的。測量最后純度的方法也適合于尋找最佳區(qū)熔技
術:殘留雜質的知識對進一步增加被提純材料的純度是重
妾的.
為了測定金屬中的雜質元素，將樣品放在基本粒子流中
輻照，然后側量所形成的放射元素的放射性。將這個放射性
與同時輻照的標準相比較，就得到雜質的濃度。放射性測盤
可以在樣品上直接傲，或在放射元素經過化學分離后做。輻
照時形成的放射性同位素量是很小的，常用“載體”技術:將
含有被輻照樣品的溶液中加入少童天然的，無放射性的元素，·
使在化學分離中可以相繼處理微量放射性同位素，它們的化
學性質和載體的化學性質是相同的.放射性分析是很靈敏的.
而且是很特殊的，形成的放射性同位素不僅可用化學性質而
且可用放射性性質來標識(半壽命，輻射的類型和能譜).最
后，不用擔心污染，因為考慮的僅是輻照形成的放射元素，
在隨后處理中混進的雜質是無放射性的，因而不影響結果。
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